Szkolenie STATYSTYCZNA KONTROLA PROCESU (SPC) ORAZ ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH (MSA) Z WYKORZYSTANIEM MINITAB

Opis szkolenia STATYSTYCZNA KONTROLA PROCESU (SPC) ORAZ ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH (MSA) Z WYKORZYSTANIEM MINITAB

• wykorzystanie arkusza danych, wprowadzanie danych, obsługiwane formaty
• definiowanie i obsługa projektów
• interfejs Minitab
• dostosowanie programu do użytkownika - opcje

• obliczanie parametrów opisowych
• graficzna prezentacja danych (histogram, wykresy pudełkowe, graficzny test normalności)

• procedura identyfikacji postaci rozkładu
• ocena zdolności procesu w przypadku rozkładu normalnego (Cp, Cpk, Pp, Ppk)
• ocena zdolności procesu w przypadku rozkładów innych od rozkładu normalnego - transformacja Boxa-Coxa, transformacja Johnsona
• konstrukcja kart kontrolnych Shewharta

• ocena systemu pomiarowego ze względu na poprawność – wyznaczanie i ocena istotności błędu systematycznego, ocena liniowości i stabilności
• ocena systemu pomiarowego ze względu na precyzję - wyznaczanie powtarzalności i odtwarzalności - metodą średniej i rozstępu (R&R) oraz metodą analizy wariancji (ANOVA)
• wyznaczanie współczynników zdolności systemu pomiarowego Cg, Cgk
• analiza systemu pomiarowego w przypadku danych atrybutowych

• podstawowa statystyczna analiza danych (parametry opisowe, histogram, graficzny test normalności)
• ocena zdolności procesu w przypadku rozkładu normalnego (Cp, Cpk, Pp, Ppk)
• transformacja Boxa-Coxa, transformacja Johnsona
• procedura identyfikacji rozkładu
• ocena zdolności procesu w przypadku rozkładu innego od rozkładu normalnego
• konstrukcja kart kontrolnych w przypadku parametrów mierzalnych (X-R, X-s, IX-MR)
• wyznaczanie współczynników zdolności systemu pomiarowego Cg, Cgk
• ocena powtarzalności i odtwarzalności systemu pomiarowego – metoda średniej i rozstępu R&R, metoda analizy wariancji (ANOVA) ( „crossed” i „nested”)