Szkolenie Pomiar chropowatości

szkolenie zamknięte

Celem szkolenia jest zaznajomienie uczestników z tematyką kierunkowości struktury powierzchni, nierówności powierzchni, powierzchni rzeczywistej i powierzchni nominalnej.

PROGRAM SZKOLENIA : Pomiar chropowatości

1. SGP – Struktura Geometryczna Powierzchni

kierunkowość struktury powierzchni
nierówność powierzchni
powierzchnia rzeczywista
powierzchnia nominalna
powierzchnia zmierzona
powierzchnia odniesienia

2. Profil nierówności powierzchni

błąd kształtu
falistość
chropowatość

3. Sposoby pomiaru chropowatości

metoda stykowa
metoda optyczna
inne metody

4. Rodzaje filtrów i dobór odcinków pomiarowych

odcinek elementarny
odcinek pomiarowy
dobór odcinka pomiarowego

5. Zasady przeprowadzania pomiarów
6. Rodzaje przyrządów pomiarowych
7. Oznaczenia chropowatości – symbole i interpretacja

CZAS TRWANIA SZKOLENIA - 1 dzień (8 h szkoleniowych, 1 h szkoleniowa = 45 min.)

SYLWETKA TRENERA

Wykształcenie:
Absolwent Politechniki Warszawskiej, gdzie ukończył studia inżynierskie w Instytucie Metrologii i Inżynierii Biomedycznej. Absolwent Politechniki Krakowskiej, na której na Wydziale Mechanicznym ukończył w Laboratorium Metrologii Współrzędnościowej studia Magisterskie oraz Studia Podyplomowe. Pracownik związany z motoryzacją od ponad 20 lat. W pracy zawodowej zaczynał od produkcji, poprzez działy wspomagające (jakość, technologia) do stanowiska kierownika. Specjalista w dziedzinie metrologii, systemów pomiarowych (MSA) i statystycznego sterowania procesem (SPC). Auditor systemu Zarządzania Jakością wg ISO 9001:2016, auditor standardu Zarządzania Jakością wg IATF:16949:2016 oraz auditor wewnętrzny w laboratoriach akredytowanych wg 17025. Prelegent na Sympozjum Metrologii w Procesach Wytwarzania organizowanym przez Polskie Forum ISO.

Specjalizacja trenerska:
Szkolenia prowadzone od 2005 roku, przeważnie dla motoryzacji, ale również dla przemysłu lotniczego i AGD. W zakresie szkoleń szczególną uwagę zwraca na praktyczne podejście do tematu, włączając, jeśli to możliwe ćwiczenia i zajęcia praktyczne. Autor nowatorskiej karty kontrolnej Shewharta, która służy
do monitorowania procesów. Zaletą tej karty jest jej długoterminowość, która poprzez użycie odpowiednich formuł jest kartą kroczącą, co nie wymusza ciągłej wymiany karty na nową. Opracował na podstawie wymagań MSA formatkę do analizy systemów pomiarowych. Wymienione arkusze pozwalają bez użycia specjalistycznego softwaru zaprezentować omawiane tematy podczas szkoleń z MSA i SPC.