Szkolenie Pomiar twardości

PROGRAM SZKOLENIA: Pomiar twardości

1. Podstawowe zagadnienia.
2. Rodzaje twardości i ich omówienie:

• Twardość Rockwella,
• Twardość Brinella,
• Twardość Vickersa,
• Inne metody.

3. Sposoby pomiaru detali.
4. Sposoby użytkowania twardościomierzy.
5. Przygotowanie próbek do pomiaru.
6. Wzorcowanie twardościomierzy.
7. Ocena wyników pomiaru twardości.
8. Powtarzalność wskazań twardościomierza.
9. Praktyczne pomiary różnych detali.
10. Dyskusja grupy i omówienie typowych problemów.

Podczas szkolenia przewidziane są praktyczne pomiary twardości metodą Rockwella.

CZAS TRWANIA SZKOLENIA - 1 dzień (8 h szkoleniowych, 1 h szkoleniowa = 45 minut)

SYLWETKA TRENERA

Wykształcenie:
Absolwent Politechniki Warszawskiej, gdzie ukończył studia inżynierskie w Instytucie Metrologii i Inżynierii Biomedycznej. Absolwent Politechniki Krakowskiej, na której na Wydziale Mechanicznym ukończył w Laboratorium Metrologii Współrzędnościowej studia Magisterskie oraz Studia Podyplomowe. Pracownik związany z motoryzacją od ponad 20 lat. W pracy zawodowej zaczynał od produkcji, poprzez działy wspomagające (jakość, technologia) do stanowiska kierownika. Specjalista w dziedzinie metrologii, systemów pomiarowych (MSA) i statystycznego sterowania procesem (SPC). Auditor systemu Zarządzania Jakością wg ISO 9001:2016, auditor standardu Zarządzania Jakością wg IATF:16949:2016 oraz auditor wewnętrzny w laboratoriach akredytowanych wg 17025. Prelegent na Sympozjum Metrologii w Procesach Wytwarzania organizowanym przez Polskie Forum ISO.
 
Specjalizacja trenerska:  
Szkolenia prowadzone od 2005 roku, przeważnie dla motoryzacji, ale również dla przemysłu lotniczego i AGD. W zakresie szkoleń szczególną uwagę zwraca na praktyczne podejście do tematu, włączając, jeśli to możliwe ćwiczenia i zajęcia praktyczne. Autor nowatorskiej karty kontrolnej Shewharta, która służy
do monitorowania procesów. Zaletą tej karty jest jej długoterminowość, która poprzez użycie odpowiednich formuł jest kartą kroczącą, co nie wymusza ciągłej wymiany karty na nową. Opracował na podstawie wymagań MSA formatkę do analizy systemów pomiarowych. Wymienione arkusze pozwalają bez użycia specjalistycznego softwaru zaprezentować omawiane tematy podczas szkoleń z MSA i SPC.