Szkolenie STATYSTYCZNA KONTROLA PROCESU (SPC) ORAZ ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH (MSA) Z WYKORZYSTANIEM MINITAB
szkolenie zamknięte
Celem szkolenia jest zapoznanie uczestników z obsługą i możliwościami programu MINITAB w zakresie prowadzenia statystycznego sterowania procesem SPC oraz prowadzenia analiz systemów pomiarowych.
PROGRAM SZKOLENIA: SPC + MSA Z WYKORZYSTANIEM MINITAB
Dzień I (MSA)
- Produkt, proces a system pomiarowy
- Rodzaje danych
- Statystyka przemysłowa – ogólne pojęcia
- Rola systemu pomiarowego
- Składowe systemu pomiarowego
- Kalibracja i jej składowe dla przyrządów pomiarowych
- Powtarzalność i odtwarzalność systemu pomiarowego
- Metoda średnich rozstępów – zasady i formuły matematyczne
- Metoda średnich rozstępów – arkusz
- Metoda ANOVA
- Różnice w metodach i ich konsekwencje
- Standaryzacja w systemach pomiarowych
- Systemy pomiarowe dla pomiarów niszczących – logika działania
Dzień II (SPC)
- Karta kontrolna – budowa i logika działania
- Rodzaje zmienności w procesie – podejście do prowadzenia działań usprawniających
- Przyczyna, skutek i symptom w logice przyczynowo skutkowej
- Rodzaje kart kontrolnych
- Karta wartości indywidualnych – budowa i zastosowanie
- Karta wartości średnich i rozstępów (X-R) – budowa i zastosowanie
- Stabilność a zdolność procesu
- Zdolność procesu i jej wskaźniki – Cp. Cpk
- Projektowanie kart kontrolnych w oparciu o wymaganą zdolność procesu
- Wdrażanie i utrzymanie SPC w procesie produkcyjnym lub usługowym
- Problemy w pracy z SPC – podsumowanie
Uczestnik na czas trwania szkolenia powinien dysponować własnym laptopem z oprogramowaniem Minitab.
CZAS TRWANIA SZKOLENIA: 2 dni – 16 godzin szkoleniowych (1 h szkoleniowa = 45 minut)


