Szkolenie SPC- Statystyczne sterowanie procesem i MSA- Analiza systemów pomiarowych

szkolenie zamknięte

Celem szkolenia SPC i MSA jest umiejętność identyfikacji odchyleń od standardu i pokazanie możliwości zareagowanie jeszcze przed pojawieniem się problemów i produktów niezgodnych.

PROGRAM SZKOLENIA: SPC- Statystyczne sterowanie procesem i MSA- Analiza systemów pomiarowych

W zakresie MSA:

Moduł I - MSA

1. Powtórzenie podstawowych zagadnień MSA:

Zmienność całkowita w procesie i wpływ pomiaru,
Pomiar, proces i SPC,
Wyciąg z wymagań norm MSA (AIAG, Bosch, etc.),
Dyskusja z grupą.

2. Składowe zmienności systemu pomiarowego:

Diagram Ishikawy dla źródeł zmienności w systemie pomiarowym,
Poprawa systemu pomiarowego jako projekt.

3. Podstawowe metody analizy R&R dla danych ciągłych:

Metoda rozstępów, metoda średnich i rozstępów, metoda ANOVA,
Wskaźniki Cg, Cgk, %EV, %AV, %R&R, %PV, NDC i ich interpretacja,
Inne procedury analizy systemów pomiarowych,
Kryteria akceptowalności systemów.

4. Analiza R&R:

Zebranie danych do badanego systemu pomiarowego, przygotowanie próbek (wstęp do ćwiczenia),
Analiza systemu pomiarowego wybranymi metodami z wykorzytsaniem MS EXCEL (ćwiczenie),
Porównanie metod analizy R&R i interpretacja.

5. Organizacja badań R&R:

Dobór próby, operatorów, warunków badania,
Wpływ doboru na wyniki analiz: dyskusja z grupą.

6. Przykłady analiz rzeczywistych i dyskusja:

Przykłady rzeczywiste pozytywne i negatywne,
Dyskusja z grupą.

W zakresie SPC:

Moduł II - SPC

1. Powtórzenie podstaw SPC:

Do czego służy SPC,
Po co komu jest SPC,
Korzyści płynące z SPC.

2. Zasady działania kart kontrolnych?

Zmienność naturalna i specjalna w procesie,
Karta kontrolna jako filtr szumów i sygnałów z procesu,
Sygnały płynące z karty kontrolnej (tzw. zasady Nelsona i ich interpretacja),
Dyskusja z grupą.

3. Podstawowe karty kontrolne:

Metody wyznaczania linii kontrolnych dla podstawowych kart kontrolnych (X-Chart, I Chart,
I-MR, X-R, karta N, P, NP),
Projektowanie karty kontrolnej dla procesu (ćwiczenie).

4. Reakcja na sygnały karty kontrolnej:

Rola operatora, koordynatora, inżyniera w procesie,
Rzeczywiste przykłady zadziałania kart kontrolnych.

5. Analiza procesu z zastosowaniem kart kontrolnych:

Ocena stabilności procesu na przykładzie zebranych danych (ćwiczenie),
Dyskusja z grupą.

6. Ocena zdolności procesu:

Wskaźniki Cp, Cpk, Pp, Ppk oraz pokrewne i ich interpretacja,
Obliczanie zdolności procesu (ćwiczenie),
Wdrażanie kultury SPC w organizacji, przyczyny porażek i sukcesów.

METODY SZKOLENIOWE:

wykład,
ćwiczenia,
dyskusje,
studium przypadku (case studies).

W trakcie szkolenia wykonywane będa warsztaty z wykorzystaniem MS EXCEL.
Każdy uczestnik w trakcie szkolenia musi dysponować własnym laptopem z oprogramowaniem MS EXCEL.

CZAS TRWANIA SZKOLENIA: 2 dni (16 h szkoleniowych, 1 h szkoleniowa = 45 minut)

SYLWETKA TRENERA

Specjalista zastosowań metod statystycznych w przedsiębiorstwach produkcyjnych, w szczególności w zrozumieniu i optymalizacji procesów, analiz systemów pomiarowych, analizie niezawodności i prognozowania. Certyfikowany Black Belt z doświadczeniem w projektach Six Sigma. Wdrażał SPC w trzech fabrykach BSH Oddziałów Łódzkich (Bosch and Siemens Home Appliances). Certyfikowany audytor ISO/TS 16949:2002 oraz VDA 6.3.

Wieloletni wykładowca w Katedrze Metod Statystycznych na Uniwersytecie Łódzkim (prowadzone przedmioty: Statystyczna kontrola jakości, statystyka). Autor i współautor artykułów z zakresu zastosowań metod statystycznych w firmach produkcyjnych oraz analizie niezawodności. Współautor podręcznika rozwiązywania problemów „5xDlaczego”.

Prowadzone tematy szkoleniowe to m.in. MSA, SPC, DoE, Six Sigma, Prognozowanie (np. sprzedaży, popytu, awaryjności), Analiza niezawodności, Analiza Weibulla, Big Data.