Szkolenie MSA- Analiza systemów pomiarowych i SPC- Statystyczne sterowanie procesem

Plan szkolenia:

1.    Zmienność - przyczyny zwykłe i szczególne zmienności. Statystyczny opis zmienności - obliczanie oraz interpretacja średniej, mediany, rozstępu, odchylenia standardowego,
2.    Graficzne metody prezentacji danych: konstrukcja i interpretacja histogramu,
3.    Konstrukcja, dobór i funkcjonowanie kart kontrolnych przy liczbowej ocenie właściwości - karty kontrolne wartości średniej i rozstępu, pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu. Konstrukcja kart kontrolnych Shewarta dla cech mierzalnych (wartości średniej i rozstępu, wartości średniej
i odchylenia standardowego, mediany i rozstępu, pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu).
4.    Funkcjonowanie kart kontrolnych przy alternatywnej ocenie właściwości - karty p, np., c oraz u.
5.    Ocena zdolności i stanu funkcjonowania procesu - wyznaczanie i interpretacja współczynników Cp, Cpk oraz Pp i Ppk
6.    Zdolność procesu, a wadliwość.
7.    Pojęcie funkcji straty.
8.    Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru
9.     Opis zdolności systemów pomiarowych - definicje i interpretacja:
-     niepoprawność wskazań (błąd systematyczny),
-     powtarzalność i odtwarzalność (błędy przypadkowe),
-     zmienność całkowita a zmienność własna procesu,
-     rozdzielczość i rozróżnialność,
-     wskaźniki zdolności: Cg, Cgk, %EV, %AV, %R&R,
-     liniowość i stabilność systemu pomiarowego,
10.    Metodologia badań zdolności systemów pomiarowych za pomocą analizy R&R:
-     procedura typu 1, (zdolność)
-     procedura typu 2 (ARM pełna – metoda rozstępów i średnich, RM metoda krótka ),
-     procedura typu 3 (zdolność dla systemów zautomatyzowanych).