Szkolenie MSA- Analiza systemów pomiarowych i SPC- Statystyczne sterowanie procesem

PROGRAM SZKOLENIA: MSA- Analiza systemów pomiarowych i SPA- Statystyczne sterowanie procesem 

 Dzień I (MSA)

1. Produkt, proces a system pomiarowy  
2. Rodzaje danych
3. Statystyka przemysłowa – ogólne pojęcia
4. Rola systemu pomiarowego
5. Składowe systemu pomiarowego
6. Kalibracja i jej składowe dla przyrządów pomiarowych
7. Powtarzalność i odtwarzalność systemu pomiarowego
8. Metoda średnich rozstępów – zasady i formuły matematyczne
9. Metoda średnich rozstępów – arkusz 
10. Metoda ANOVA
11. Różnice w metodach i ich konsekwencje
12. Standaryzacja w systemach pomiarowych  
13. Systemy pomiarowe dla pomiarów niszczących – logika działania
14. Analiza wiarygodności systemów oceny atrybutowych (Kappa )

Dzień II (SPC WG AIAG & VDA WYD. Z 2026 roku )

1. Produkt i jego charakterystyki i ich mierniki
2. Mapy procesu – mapa przepływu i struktury
3. Koncepcja SPC według Shewharta – koło PDCA
4. Statystyka przemysłowa – rozkłady i ich mierniki
5. Graficzna prezentacja danych
6. Stabilność procesu – karta kontrolna
7. Budowa karty kontrolnej – prawdopodobieństwo błędów – czułość karty kontrolnej
8. Przyczyny specjalne zmienności a SPC
9. SPC – sterowanie procesem produkcyjnym – reagowanie na rozregulowanie procesem
10. SPC – analiza zachowania procesu
11. Zdolność procesu – koncepcja
12. Rodzaje zdolności procesu – definicje i sposoby liczenia
13. Powiązanie zdolności procesu w praktyce – siła zmienności wielkości wejściowych
14. SPC jako metoda prewencyjna
15. Organizacja SPC w organizacji – logika 5W +2H
16. Rozkłady nienormalne – inne rodzaje kart kontrolnych i liczenia wskaźników zdolności.

CZAS TRWANIA SZKOLENIA: 2 dni (16h szkoleniowych, 1h szkoleniowa = 45 minut)