Szkolenie MSA- Analiza systemów pomiarowych i SPC- Statystyczne sterowanie procesem
szkolenie zamknięte
Szkolenie pozwoli nabyć umiejętność identyfikacji odchyleń od standardu i pokazanie możliwości zareagowanie jeszcze przed pojawieniem się problemów i produktów niezgodnych.
Plan szkolenia:
1. Zmienność - przyczyny zwykłe i szczególne zmienności. Statystyczny opis zmienności - obliczanie oraz interpretacja średniej, mediany, rozstępu, odchylenia standardowego,
2. Graficzne metody prezentacji danych: konstrukcja i interpretacja histogramu,
3. Konstrukcja, dobór i funkcjonowanie kart kontrolnych przy liczbowej ocenie właściwości - karty kontrolne wartości średniej i rozstępu, pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu. Konstrukcja kart kontrolnych Shewarta dla cech mierzalnych (wartości średniej i rozstępu, wartości średniej
i odchylenia standardowego, mediany i rozstępu, pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu).
4. Funkcjonowanie kart kontrolnych przy alternatywnej ocenie właściwości - karty p, np., c oraz u.
5. Ocena zdolności i stanu funkcjonowania procesu - wyznaczanie i interpretacja współczynników Cp, Cpk oraz Pp i Ppk
6. Zdolność procesu, a wadliwość.
7. Pojęcie funkcji straty.
8. Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru
9. Opis zdolności systemów pomiarowych - definicje i interpretacja:
- niepoprawność wskazań (błąd systematyczny),
- powtarzalność i odtwarzalność (błędy przypadkowe),
- zmienność całkowita a zmienność własna procesu,
- rozdzielczość i rozróżnialność,
- wskaźniki zdolności: Cg, Cgk, %EV, %AV, %R&R,
- liniowość i stabilność systemu pomiarowego,
10. Metodologia badań zdolności systemów pomiarowych za pomocą analizy R&R:
- procedura typu 1, (zdolność)
- procedura typu 2 (ARM pełna – metoda rozstępów i średnich, RM metoda krótka ),
- procedura typu 3 (zdolność dla systemów zautomatyzowanych).
Szukasz tego szkolenia
w formie zamkniętej?
Szkolenia powiązane